半导体分立器件测试系统询价需求询价公告（二次）

一、询价内容 
半导体分立器件静态参数测试系统
（一）技术规范和标准
系统的生产制造、测试方法与测试能力符合相关国标、国军标、IEC、IEEE等国内国际通用技术规范的要求。
（二）技术要求：
1.基本要求：
* 系统通过PC机对其内部功率源、测试施加条件、测试具体线路进行控制，达到对器件进行测试的目的。
* 主极电压：≥2000V；主极电流：≥200A；控制极电压：≥80V；控制极电流≥10A。
* 软硬件升级和扩展：首次供货时系统须安装好与设备匹配的用户软件。供方在软件升级后以公开形式面向所有用户发布信息，并为需方安装升级软件。未升级软件终生保有系统出厂技术性能。

2.其他要求：
* 可采用脉冲法测试参数、脉宽为300μS，占空比1/3000以上；
* 系统稳定性高，测试结果准确，重复性好；具备在线系统状态、测试结果、故障定位显示功能；具备完整的系统自检、校准能力，可系统故障定位到元件级，可完成系统精度检测；具备完整的软、硬件升级/扩展功能；
* 具备DUT引腿接触性测试、加压限流能力、A-K短路保护、过压/过流保护等能力，保证系统安全，有效防止DUT损伤；具备二极管极性自动判别功能；设备内部元器件及装焊工艺具备高可靠性；
* 所有测试夹具进行了误差补偿和噪声拟制设计。

3.可测试器件种类及参数要求：
绝缘栅双极大功率晶体管：IGBT（NPN型/PNP型）
二极管：DIODE
稳压二极管、齐纳二极管ZENER
晶体管：TRANSISTOR（NPN型/PNP型）
结型场效应管：J-FET （N-沟/P-沟，耗尽型/增强型）
MOS场效应管：POWER MOSFET（N-沟/P-沟）
光电耦合器：OPTO-COUPLER（NPN型/PNP型）
双向触发二极管：DIAC    
电磁继电器：RELAY
可控硅（普通晶闸管）：SCR 
达林顿阵列：DARLINTON
以上各类半导体分立器件的主要电性能参数

4.测试夹具要求：
封装号：SOT-23、TO-254(A)、引线59-10/DO-41/DO-35（D2-10A、DO-201AD）、LL-34(SOD-80)、SOD-323、SMD-0.1

二、响应单位资格要求
1.具有依法正式登记注册的营业执照，注册资金≥200万元，成立时间≥2年，具有法人资格和健全的组织机构，法定代表人具有中华人民共和国国籍。 
2.制造商需通过质量管理体系认证或等同效力的专业质量认证，认证范围覆盖其所承接任务范围，或能提供满足质量控制要求的相关证明（如:其他军工单位使用合格的质量证明、有资质第三方的质量检定证明、响应单位为代理商的，需提供制造厂家的项目授权文件）。
3.具有良好的商业信誉，近三年经营活动中无重大法律纠纷、无重大违法和失信记录。
4.财务资金运营情况良好。
5.符合法律、行政法规规定的其他条件。 

三、询价报名时间及对接方式
本项目采取线下对接的方式，自公告发出之日起5个工作日

四、联系方式
采购联系人:王凌菲 020-84118683
技术联系人:陈建建 020-84119455